JEOL Analytical Services – Analysedienstleistungen auf höchstem Niveau
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Willkommen bei JEOL

JEOL ist einer der führenden Hersteller von elektronenoptischen Geräten, Analytischen Instrumenten und Geräten zur Probenpräparation. Wir sind Ihr lokaler Partner für Beratung, Verkauf, Schulung und technischen Service.

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JEOL - Solutions for Innovation

JEOL (Germany) GmbH, Ihr Partner für Verkauf, Schulung, Wartung und Reparatur von JEOL Systemen.

60 Years NMR + 50 Years SEM
 

Aktuelles

Weitere aktuelle Informationen erhalten Sie in der Rubrik Aktuelles.

  • 26.04.2017  JEOL JXA-8530FPLUS Feldemissions Elektronenstrahl-Mikrosonde

    JEOL JXA-8530FPLUS Feldemissions Elektronenstrahl-Mikrosonde

    Die JEOL Mikrosonde JXA-8530FPlus ist bereits die dritte Generation der erfolgreichen Elektronenstrahl-Mikrosonden-Serie mit patentierter In-Lens- Feldemissionsquelle.

  • 26.04.2017  JEOL JSM-IT500 InTouchScope™

    JEOL JSM-IT500 InTouchScope™

    Das JSM-IT500 ist die neueste Innovation in der beliebten JEOL InTouchScope™ Rasterelektronenmikroskopie-Baureihe. Ausgestattet mit fortschrittlichsten Analyse-Methoden, erleichtert das JSM-IT500 den kompletten Arbeitsablauf von der Probenbeladung bis hin zur Berichtsgenerierung.

  • 26.04.2017  JEOL JMS-MT3010HRGA

    JEOL JMS-MT3010HRGA

    JEOL JMS-MT3010HRGA ist ein „Time-of-Flight“ Massenspektrometer, welches durch die revolutionäre „Multi-turn“-Technologie kombiniert mit perfekter Fokussierung höchste Auflösung in einem äußerst kompakten Design erreicht.

  • 26.04.2017  JEOL JIB-4700F Mehrstrahl-System

    JEOL JIB-4700F Mehrstrahl-System

    Das neue Mehrstrahlsystem JEOL JIB-4700F ist eine ideale Plattform für sämtliche Fragestellungen von der morphologischen, chemischen bis hin zur kristallographischen Analyse verschiedenster Proben.

  • 15.02.2017  Analytical Services

    Analytical Services

    Umfangreiche Dienstleistungen für modernste Mikroskopie-, Analyse- und Präparationsverfahren mit einem der modernsten Labore.

  • 17.11.2016  Mehrfarbige Elektronenmikroskopie durch Anreicherung von Lanthaniden

    Mehrfarbige Elektronenmikroskopie durch Anreicherung von Lanthaniden

    Adams et al. zeigen in dieser aufregenden Studie, dass man mittels lokaler Anreicherung von Lanthaniden mehrfarbige Elektronenmikroskopie (multicolor electron microscopy) betreiben kann.

Kontakt, Termine und Wissenswertes

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Gute Änger 30
85356 Freising

Tel.: +49 8161 9845-0
Fax: +49 8161 9845-100
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JSM-7800F PRIME
Hoch­auflösendes analytisches Feld­emissions-Raster­elektronen­mikroskop (SEM). JEOL JSM-7800F PRIME aus unserem Applikationslabor.
JEM-1400Plus
JEOL JEM-1400Plus Transmissions­elektronen­mikroskop aus unserem Applikationslabor.
JSM-IT300 LV
Hochleistungsfähiges und vielseitiges Rasterelektronenmikroskop für die verschiedensten Anwendungen. JEOL JSM-IT300 LV aus unserem Applikationslabor.
IB-19510 CP
Einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen.
 
 
 

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  • PICO 2017

    30.04. - 04.05.2017 Niederlande
    Kasteel Vaalsbroek, Vaalsbroek

  • EMAS 2017

    07.05. - 11.05.2017 Deutschland
    Konzilgebäude Konstanz, Konstanz

  • CONTROL 2017

    09.05. - 12.05.2017 Deutschland
    Messe Stuttgart, Stuttgart

  • SCANDEM 2017

    05.06. - 09.06.2017 Island
    Universität von Island, Reykjavik

 
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