Rasterelektronenmikroskope (REM)

JEOL JSM-7900F Feldemissions-Rasterelektronen­mikroskop

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JEOL JSM-7900F Feldemissions-Rasterelektronen­mikroskop

Das neue JSM-7900F Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop kombiniert absolute Höchstauflösung im elektronenmikroskopischen Bild mit einzigartigen Analysemöglichkeiten. Durch eine Vielzahl von Automatik- und Hilfe-Funktionen sowie einem ultra-schnellen Probentransfer erlaubt das neue JSM-7900F einen noch nie da gewesenen Probendurchsatz. Dabei eignet sich das Instrument für alle erdenklichen Anwendungen, wie metallische oder magnetische Materialien, Halbleiter, keramische Werkstoffe, medizinische und auch biologischen Proben. Ein Highlight dieses erstklassigen Mikroskops ist das neue elektronenoptische System („NeoEngine“). So verbessert es beispielsweise automatisch das Alignment des Mikroskops und den Strahldurchmesser bei unterschiedlichen Systemparametern. Darüber hinaus führt das leistungsstarke Navigationssystem „Smile Navi“ den Anwender durch den kompletten Datenerfassungsprozess. Die zusätzliche Online-Anleitung bietet umfassende Unterstützung und führt selbst Anwender mit geringen Vor-Kenntnissen auf einfache Art bis zum perfekten Ergebnis.

Merkmale

  • Hochauflösende Bildgebung und Analyse selbst bei magnetischen oder isolierenden Materialien durch Einsatz einer Hybrid-Objektivlinse.
  • Probenstrom ≥500nA für ultra-schnelle Analytik.
  • In-lens Schottky Plus Feldemissions-Elektronenquelle und Kondenserlinsen mit geringer Aberration bieten höchste Stabilität und maximalen Strom auch bei niedriger Beschleunigungsspannung
  • GBSH-S (GENTLEBEAM™ Super High mode) ermöglicht eine hochauflösende Bildgebung bei extrem niedrigen Beschleunigungsspannungen (bis zu 10V).
  • Neuer hochempfindlicher BE-Detektor mit außergewöhnlicher Leistung bei niedrigen Beschleunigungsspannungen.
  • In-Lens-Detektoren für Abbildung bei niedrigsten Anregungsspannungen.
  • Durch die neu konzipierte Probenschleuse können Proben schnell und sicher gewechselt werden.

Spezifikationen

Auflösung

0.6 nm (15 kV), 0.7 nm (1.0 kV), 1.0 nm (0.5 kV)
3.0 nm (5 kV, Probenstrom 5 nA, WD 10 mm)

Vergrößerung

×25 to ×1,000,000

Elektron­enquelle

In-lens Schottky Plus - Feldemissionsquelle

Beschleunigungs­­spannung

0.01 kV bis 30 kV

Probenstrom

wenige pA bis 500 nA

Bitte beachten Sie:

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

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