Rasterelektronenmikroskope (REM)

JEOL JSM-IT500HR InTouchScope™

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JEOL JSM-IT500HR InTouchScope™

Steigende Anforderungen erfordern stetige Weiterentwicklung. Daher wurde basierend auf der erfolgreichen Baureihe der JEOL InTouchScope ™ REMs das neue JSM-IT500HR entwickelt.

Die neue High-brightness Feldemssions-Elektronenquelle ermöglicht hochaufgelöste Abbildung und schnelle Analytik bei hoher Sensitivität und räumlicher Auflösung.

Mit dem JEOL eigenen integrierten EDX-System ist erstmals echte Live-Elementaranalyse möglich.

Merkmale

Das neue JSM-IT500HR ergänzt die beliebten JEOL InTouchScope™ REMs von JEOL.
Steigern Sie Ihre Produktivität durch die vollintegrierte Softwarelösung – nonstop von der Probennavigation über die Analyse bis zur Berichterstellung.

  • Neue High-brightness Feldemissions-Elektronenquelle für hochauflösende Abbildung und Analytik "Zeromag"-Funktion: Probennavigation einfacher denn je.
  • Live EDX ermöglicht erstmal Elementanalyse in Echtzeit parallel zur Bildaufnahme
  • Integriertes Datenmanagement: Einfachste Berichterstattung aller aufgenommenen Daten.
  • Einfache und effiziente Bedienung - vom Probeneinbau bis zur Bildaufnahme.
  • Die neu entwickelte „Auto Beam Alignment“-Funktion sorgt stets für ideale elektronenoptische Bedingungen.
  • Große Probenbühne für Proben aller Art kompakte Bauweise mit kleiner Stellfläche.

Optionen

  • Niedervakuum-Sekundärelektronen-Detektor (LSED)
  • Energiedispersives Röntgenspektrometer (EDX)
  • Wellenlängendispersives Röntgenspektrometer (WDS)
  • Elektronenrückstreu-Beugung (EBSD)
  • Probenschleuse
  • Probennavigations-Kamera (Stage Navigation System SNS)
  • Live-Kamera
  • Bedienpult
  • 3D-Software

Spezifikationen

Auflösung (HV)

1.5 nm (30 kV) 4.0 nm (1.0 kV)

Auflösung (LV)

3.0 nm (15 kV, Probenstrom 1 nA)

Auflösung (LV)

1.8 nm (15 kV BED)

Vergrößerung

x 5 bis x 600,000
(Referenzabbildung 128 mm x 96 mm)

Elektronenquelle

High-brightness Feldemissions-Elektronenquelle

Beschleunigungsspannung

0.5 kV bis 30kV

Probenstrom

1 pA bis 20 nA

Niedervakuum-Druck­bereich

10 bis 150Pa

Automatikfunktionen

Filament-Justage, Strahl-Ausrichtung,
Fokus / Stigmator / Helligkeit / Kontrast

Maximale Probengröße

200 mm Durchmesser, 75 mm Höhe

Bühnen-Spezifikationen

X: 125 mm, Y: 100 mm, Z: 80 mm
Kippung: -10° bis 90° Rotation: 360°

Bildmodi

Sekundärelektronenabbildung, gefilterte Abbildung, Rückstreu-Abbildung (Komposition/Topographie), Stereomikroskopische Abbildung, etc.

Bitte beachten Sie:

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

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