Rasterelektronenmikroskope (REM)

JEOL JCM-6000Plus NeoScope™

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JEOL JCM-6000Plus NeoScope™

Das neue Benchtop-REM JCM-6000Plus Neoscope™ - Ausgestattet mit einem hoch-sensitiven Halbleiter-Detektor für die effiziente Materialanalytik.

Raster-Elektronenmikroskope werden sowohl in der Forschung und Entwicklung als auch in der Qualitätskontrolle bei industriellen Prozessen verwendet. Dabei finden Sie Einsatz in der Medizin, Biologie und Nanotechnologie bis hin zu den Materialwissenschaften, in denen Metalle, Halbleiter und Keramiken untersucht werden.

Das neue JCM-6000Plus ist mit dem gleichen hoch-sensitiven Halbleiter-Detektor ausgestattet, der in höchst-auflösenden REMs eingesetzt wird. Dadurch können nun neben der Darstellung der Zusammensetzung und der Topographie der Probe auch plastisch wirkende Aufnahmen durch die Detektion von Rückstreu-Elektronen erzeugt werden. Daneben wird für den Betrieb im Hochvakuum ein effizienter Sekundärelektronen-Detektor eingesetzt um feinste Oberflächendetails aufzulösen. Für die Abbildung elektrisch isolierender Proben verfügt das Gerät neben dem Hochvakuum-Modus auch über einen Niedervakuum-Modus.

Merkmale

  1. Einfache Bedienung durch intuitive Touch-Screen-Oberfläche, die eine Fülle von automatischen Funktionen bereitstellt.
  2. Abbildung von Sekundärelektronen im Hochvakuum zur Abbildung von Oberflächenstrukturen.
  3. Verbesserte Abbildungsqualität und neue Modi zur Detektion von Rückstreu-Elektronen.
  4. Vielzahl von optionalen Funktionen, darunter Element-Analyse (EDX).
  5. Ansprechendes Design des Mikroskops und kompakte Abmessungen.

    Optionen

    • Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS)
    • motorisierter Kipp-/Rotationshalter
    • XY-motorisierte Probenbühne

    Spezifikationen

    Vergrößerung

    x10 to x60,000

    Abbildung

    Sekundärelektronen-Detektor (SE), Rückstreu-Elektronen-Detektor (BSE), Betrieb im Hoch- und Niedervakuum

    Beschleunigungs­spannung

    5kV/10kV/15kV

    Emitter

    Wolfram-Quelle

    Probenbühne

    2-Achsen-Bühne (manuell)
    Verfahrwege: X: 35mm, Y: 35mm
    Maximaler Probendurchmesser: 70mm
    Maximale Probenhöhe: 50mm

    Automatische Funktionen

    Fokus, Stigma, Kontrast/Helligkeit, Emitter-Optimierung

    Bedienung

    Touch-Display bzw. Tastatur & Maus

    Bildformat

    1280×1024 Pixel

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