Rasterelektronenmikroskope (REM)

JEOL JSM-IT100 InTouchScope™

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JEOL JSM-IT100 InTouchScope™

Vielseitiges, hochauflösendes Kompakt-REM gepaart mit der intuitiven Bedienung eines Table-Top-REMs.

Das JEOL JSM-IT100 ist die neueste Entwicklung in der preisgekrönten InTouchScope Rasterelektronenmikroskop-Baureihe. Das IT100 setzt die seit 50 Jahren bestehende technologische Führungsrolle von JEOL auf dem REM-Markt fort und stellt dabei ein einfach zu bedienendes vielseitig einsetzbares Forschungs-REM in ergonomischer Kompaktausführung dar.

Mit seinen erneut verbesserten EDS-Analysefunktionen ist das InTouchScope ein vielseitig einsetzbares „Arbeitspferd“ der Rasterelektronenmikroskopie, das konfiguriert werden kann, um individuelle Laboranforderungen zu einem außergewöhnlich günstigen Preis zu erfüllen. Es verfügt über höchste Bildauflösung und kontinuierlich einstellbare Beschleunigungsspannungen sowohl im Hochvakuum- als auch im Niedervakuum-Modus.

Das IT100 ist ein außergewöhnlich intuitives Mikroskop mit hohem Durchsatz, das entwickelt wurde, um Laborarbeitsabläufe zu optimieren. Die Eingabe erfolgt über TouchScreen-Bedienung oder für erfahrene REM-Anwender ist auch ein klassisches Bedienpult verfügbar. Durch die schnelle Datenerfassung werden Aufnahmen und Analysen von Proben zu einfachen Aufgaben.

Dank automatischer Parameter-Optimierung können mit dem IT100 schnell und einfach Sekundär- und Rückstreuelektronen-Bilder aufgenommen werden. Das integrierte JEOL EDS-System mit SDD-Technik umfasst jetzt spektrales Mapping, Mehrpunktanalyse, automatische Driftkompensation, Linien-Scans und Filterfunktionen für Elementverteilungsbilder.

Zur beliebten InTouchScope-Baureihe von JEOL gehören das NeoScope Tisch-REM mit wählbarem HV/LV-Modus und das JSM-IT500 mit erweiterten Analysefunktionen und großer Probenkammer.

Merkmale

Das InTouchScope zeichnet sich durch alle Funktionen eines voll ausgestatteten Rasterelektronenmikroskops mit Wolframkathode und integrierter EDS-Analyse in kompaktem, ergonomischem und intuitivem Design aus. Durch die eingebaute Turbopumpe handelt es sich hierbei um ein in sich geschlossenes, mobiles Kompakt-REM, das überall im Labor leicht zu installieren ist.

Bedienkomfort ist ein wesentliches Merkmal aller JEOL Rasterelektronenmikroskope, und das vielseitig einsetzbare InTouchScope ist mit Funktionen ausgestattet, die Benutzer aller Erfahrungs-Levels zu schätzen wissen:

  • Höchste Bildauflösung im HV/LV/SE/BSE-Modus
  • Chemische Analytik durch integriertes EDS
  • Multi-Touch Benutzeroberfläche und Remote Control
  • Zahlreiche Automatik-Funktionen und vorgefertigte Rezepte für diverse Probentypen
  • Mehrkanal-Live-Bild und Videoaufnahme gleichzeitig möglich
  • Schnelle Probennavigation bei 5x – 300.000x Vergrößerung
  • Smile View Premium Offline-Software mit Bildschärfung, Bildmontage, Positionsausrichtung und Überlagerung

Spezifikationen

Auflösung

Hochvakuum-Modus: 3 nm (30 kV)*, 4 nm (20 kV), 8 nm (3 kV), 15 nm (1 kV)
Niedervakuum-Modus: 4 nm (30 kV)*, 5 nm (20 kV) BSE

Beschleu­nigungs­spannung

0,5k V ∼30 kV*
0,5 kV ∼20 kV

Vergrößerung

x5 bis x300.000 (Polaroid-Referenz)

LV-Detektoren

Multi-Segment BSE-Detektor
LV-SE-Detektor (optional)

LV-Druck

10 ∼ 100 Pa

Maximale Proben­größe

Durchmesser:152 mm (125 mm abfahrbar)
Höhe:50 mm

Objekttisch

Euzentrisches Goniometer
X=80 mm, Y=40 mm, Z=5 mm–48 mm
R=360° (endlos)
Kippung -10/+90°
(computergesteuerter 2, 3 oder 5-achsiger Motorantrieb)

Bildspeicher

bis zu 5120×3840 Pixel

EDS

integriertes JEOL EDS in den Modellen IT100A und IT100LA. Merkmale: Aufnahme und Anzeige von Spektren, qualitative/quantitative Analyse, Punkt-, Mehrpunkt und Linienanalyse, spektrales Mapping, automatische Driftkompensation

BSE

Standard in den Modellen IT100LV und IT100LA

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Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

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