Rasterelektronenmikroskope (REM)

JEOL JSM-IT500 InTouchScope™

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JEOL JSM-IT500 InTouchScope™

Das JSM-IT500 ist die neueste Innovation in der beliebten JEOL InTouchScope™ Rasterelektronenmikroskopie-Baureihe.

Ausgestattet mit fortschrittlichsten Analyse-Methoden, erleichtert das JSM-IT500 den kompletten Arbeitsablauf von der Probenbeladung bis hin zur Berichtsgenerierung.

Merkmale

  1. Integriertes REM- und EDX-System
    Die Integration des REM- und EDX-Systems ermöglicht ein nahtloses Zusammenspiel zwischen Abbildungs- und Analysefunktionen.

  2. Neue "Zeromag"-Funktion
    Die neuen JEOL “Zeromag”-Funktion vereinfacht die Proben-Navigation signifikant. Es kann in erstmals in einem REM-System stufenlos zwischen licht-optischem Bild und REM-Abbildung gezoomt und dabei eine beliebige Anzahl an zu untersuchenden Bildbereichen ausgewählt werden.

  3. Neue LiveEDS-Funktion
    Bereits bei der REM-Abbildung zieht das voll-integrierte EDX-Spektrometer von JEOL permanent EDX-Spektren ein und zeigt in Echtzeit die in der Probe enthaltenen Elemente an.

  4. "SMILE VIEW™ Lab" für die integrierte Verwaltung der Bild- und Analysedaten
    Alle gesammelten Bilder, Analyse-Daten und Bildeinstellungen werden für eine schnelle Berichterstattung gesammelt und können individuell angepasst exportiert werden.

  5. Navigation beim Probentausch
    Einfache und effiziente Bedienungsunterstützung vom Probeneinbau bis hin zur Bildaufnahme.

Spezifikationen

Auflösung (HV)

3.0 nm (30 kV) 15.0 nm (1.0 kV)

Auflösung (LV)

4.0 nm (30 kV BED)

Vergrößerung

x 5 bis x 300,000
(Referenzabbildung 128 mm x 96 mm)

Elektronenstrahl

W-Filament, Vollautomatische Strahl-Ausrichtung

Beschleu­nigungs­spannung

0.3 kV bis 30kV

Sonden­strom

1 pA bis 1 μA

Nieder­vakuum-Druck­einstellung

10 bis 650Pa

Automatik­funktionen

Filament-Justage, Strahl-Ausrichtung,
Fokus / Stigmator / Helligkeit / Kontrast

Maximale Proben­größe

200 mm Durchmesser, 90 mm Höhe

Bühnen-Spezifika­tionen

X: 125 mm, Y: 100 mm, Z: 80 mm
Kippung: -10° bis 90° Rotation: 360°

Bildmodi

Sekundär­elektronen­abbildung, gefilterte Abbildung,
Rückstreu-Abbildung (Komposition/Topographie), Stereo-mikroskopische Abbildung, etc.

EDS Funktionen

Spektrum, Qualitative & Quantitative Analyse, Linienanalyse, Element­verteilungs­bilder, Driftkorrektur, etc.

Optionen

  • Rückstreuelektronen-Detektor (BED)
  • Niedervakuum-Sekundärelektronen-Detektor (LSED)
  • Energiedispersives Röntgenspektrometer (EDX)
  • Wellenlängendispersives Röntgenspektrometer (WDS)
  • Elektronenrückstreu-Beugung (EBSD)
  • Probenschleuse
  • Probennavigations-Kamera (Stage Navigation System SNS)
  • Live-Kamera
  • Bedienpult
  • 3D-Messsoftware

Bitte beachten Sie:

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

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