Röntgenmikroanalyse

JEOL SXES - Soft X-Ray Emissions-Spektrometer

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JEOL SXES - Soft X-Ray Emissions-Spektrometer

Das SXES ist ein leistungsstarkes Spektrometer mit hoher Energieauflösung zur Analyse leichter Elemente. Es ist als Teil eines integrierten Analysesystems zur Verwendung mit der Mikrosonde oder zur Nutzung als eigenständiger Detektor vorgesehen. Das SXES ermöglicht Analysen im Niederspannungsbereich bei <1 kV, spektrales Mapping mit hoher Energieauflösung, schnelle Paralleldetektion und Analysen chemischer Zustände.

  • Spektrales Mapping mit hoher Energieauflösung
    Mit dem SXES kann die Li-K-Emission erstmals direkt beobachtet werden. Es ist sogar in der Lage, die innerhalb einer Li-Batterie vorliegenden, unterschiedlichen chemischen Zustände, die sich auf Grund verschiedener Ladezustände ergeben, abzubilden. Es können zwei verschiedene Li-K-Emissionslinien dargestellt werden. Die Intensität der energieärmeren Li-K–Linie entspricht dem Grad der Ladung, während die energiereichere Li-K–Linie der Menge des metallisch gebundenen Li entspricht.

  • Schnelle Paralleldetektion
    Dank eines neuentwickelten aberrationskorrigierten Gittersystems und eines hochempfindlichen Röntgen-CCD-Systems kann mit dem SXES simultan ein vollständiges Energiespektrum erstellt werden.

  • Analyse chemischer Zustände
    Die Analyse chemischer Zustände erfolgt beim SXES in ähnlicher Weise wie bei XPS und EELS. Wie an der Fermikante der Al-L–Emission von Aluminium gezeigt wurde, hat das SXES eine Energieauflösung von nur 0,3 eV.

  • Li-Nachweis: Peakform in Verbindungen
    Bei metallischem Li wird eine einzelne K-Linie festgestellt. Je nachdem, inwieweit das Valenzband besetzt ist, kann ein zusätzlicher Satellitenpeak auftreten.

Merkmale

  • Hervorragender Nachweis von leichten Elementen (für Li geeignet)
  • Ideal für die Analyse chemischer Bindungszustände leichter Elemente – entscheidend für die Batterieforschung
  • Ausgezeichnete Empfindlichkeit – wenige Dutzend ppm Bor bei Stahl
  • Energiebereich – 50 eV bis 210 eV
  • Höchste Auflösung – 0,3 eV
  • Keine beweglichen Teile wodurch eine hohe Stabilität und Reproduzierbarkeit erzielt wird
  • Teil eines integrierten Analysesystems oder eigenständiger Detektor zum Nachrüsten
  • Benutzerfreundliches spektrales Mapping

Spezifikationen

Energie­auflösung:

0,3 eV an der Fermikante von Al-L von Aluminium

Energie­bereich:

JS50XL 50-170 eV (ca. 700 eV mit Röntgen­strahlen höherer Ordnung)

Energie­bereich:

JS200N 70-210 eV (ca. 800 eV mit Röntgen­strahlen höherer Ordnung)

Verwend­bare Geräte:

JXA-8530F, JXA-8230, JXA-8500F, JXA-8100, JXA-8200, JSM-7xxx Serie

Software

CCD Camera operation:

Software für CCD-Betrieb

Data converter:

Daten­konvertierung in EPMA-Daten­format für Daten­verar­beitung durch  EPMA-Betrach­ter (EPMA-Viewer)

Kalibrierung für Spektrometer:

Energie­kalibrierung für Spektro­meter

XES-Mapping:

XES-Spektral­mapping (Betriebsarten Abbildungs-, Linien- und Punkt­analyse)

XES-Reconstructor:

Wieder­herstellung der Abbildung für andere gespeicherte ROI-Spektral­abbildungen

Kalibrier­kurven-Software (Option):

Spuren­element­analyse für leichte Elemente

EPMA-Data Viewer:

Diese Software dient der Daten­anzeige

Vergleich zwischen SXES - WDX – EDX


SXES WDX EDX

Auflösung

0,3 eV

8 eV

129 eV

Analyse chemi­scher Zustände

möglich

möglich

nicht möglich

Parallel­detektion

möglich

nicht möglich

möglich

Erkennung

Gitter

Kristall

SDD, SiLi,

Kühl­system

Peltier

nicht erforder­lich

Peltier

Empfindlich­keit

20 ppm (@B)

100 ppm (@B)

0,1 % (@B)

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