Transmissionselektronenmikroskope (TEM)

JEOL JEM-1010 Transmissionselektronenmikroskop

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JEOL JEM-1010 Transmissionselektronenmikroskop

Das JEM-1010 ist ein kostengünstiges und dabei sehr leistungsstarkes Transmissionselektronenmikroskop mit hoher Auflösung. Die maximale Beschleunigungsspannung beträgt 100 kV. Drei verschiedene Objektiv-Polschuhe stehen für das JEM-1010 zur Auswahl. Ein high-contrast-Polschuh für optimalen Probenkontrast bei sehr guter Helligkeit und Auflösung, ein high-tilt-Polschuh, sowie ein high-resolution-Polschuh mit einer für diese Mikroskopklasse außergewöhnlich hohen Auflösung. Die Polschuhe können dabei im Bedarfsfall einfach gewechselt werden.

Merkmale

  • Benutzerfreundliche Oberfläche mit vielen Automatikfunktionen
  • vollständig rotationskorrigiertes Linsensystem
  • einstellbare Bildrotation zur Probenorientierung
  • Minimum Dose System
  • Serienmäßig mit Doppel-Probenhalter
  • vollwertiges Probengoniometer
  • hochwertiges Vakuumsystem erlaubt den Einsatz einer LaB6-Kathode ohne weitere Modifikationen

Spezifikationen

Elektronenoptik

Elektronenquelle

W- oder LaB6-Emitter (optional)

Beschleunigungsspannung

40 bis 100 kV

Punkt-Auflösung

0.40 nm (HC-Polschuh)
0.45 nm (HT-Polschuh)
0.30 nm (HR-Polschuh)

Linien-Auflösung

0.20 nm (HC-Polschuh)
0.20 nm (HT-Polschuh)
0.14 nm (HR-Polschuh)

Vergrößerungsbereich

x50 bis x600.000 (HC-Polschuh)
x50 bis x500.000 (HT-Polschuh)
x50 bis x1.000.000 (HR-Polschuh)

Probenbühne

Typ

Side-Entry-Goniometer

Verfahrwege

X: 8.5 mm
Y: 2 mm
Z: ±0.5 mm
T: ±20° (HC), ±60° (HT), ±25° (HR)

Optionen (Auswahl)

  • LaB6-Kathode
  • Cryo-Systeme
  • CCD-Kamera
  • EDX-Systeme

Bitte beachten Sie:

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

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