Transmissionselektronenmikroskope (TEM)

JEOL JEM-2200FS Feld­emissions-Transmissions­elektronen­mikroskop

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JEOL JEM-2200FS Feld­emissions-Trans­missions­elektronen­mikroskop

Das JEOL JEM-2200FS basiert auf dem JEM-2100F mit einem zusätzlich in die Elektronenoptik integrierten in-column-Energiefilter (Omega Filter). Mit diesem Gerät steht ein optimal konfiguriertes high-end-TEM für energiegefilterte Abbildung zur Verfügung. Das JEM-2200FS bietet höchste Bildqualität und höchste analytische Auflösung in der Klasse der 200 kV TEMs. Die Schottky-Feldemissions-Kathode liefert auch bei extrem kleinen Strahldurchmessern von bis zu <0,5 nm hohe langzeitstabile Ströme für überlegene Leistungsdaten bei analytischen Fragestellungen. Verschiedene Polschuhe zur optimalen Anpassung an die geforderte Applikation stehen zur Verfügung.

Das JEM-2200FS besitzt eine neue, vollständig rotationsfreie Elektronenoptik, mit der die Zuordnung von TEM-Bild und Beugungsbild wesentlich vereinfacht wird. Der patentierte JEOL Alpha Selector™ erlaubt dem Nutzer die einfache Auswahl der Beleuchtungsbedingungen von extrem konvergentem Strahl bis zur parallelen Beleuchtung.

Das neu entwickelte side-entry-Goniometer mit 5-Achsen Motorisierung ermöglicht programmierbares Abspeichern und Wiederanfahren von Positionen. Serienmäßig sind Piezoelemente für die X/Y-Bewegung des Goniometers integriert für absolut kontinuierliche Bewegung der Probe bei höchsten Vergrößerungen und effektiver Probendriftkompensation.

Das extrem stabile Goniometer wurde speziell für die Tomographie mit hohen Kippwinkeln konzipiert. Mit der optionalen JEOL Tomographiesoftware TEMography™ werden automatisch Bildserien erfasst, eine 3D-Rekonstruktion berechnet und mit einer 3D Visualisierungs-Software das so rekonstruierte Objekt dargestellt.

Die Windows™ basierte, leuchtschirmlose Benutzeroberfläche des JEM-2200FS ist intuitiv und einfach zu bedienen. Sie ermöglicht eine Fernsteuerung durch das optionale SIRIUS™ remote control system. Das einzigartige Bedienkonzept des JEM-2200FS ermöglicht erstmals das ergonomische Arbeiten am TEM bei Tageslicht. Darüber hinaus wird die getrennte Positionierung von Mikroskop und Benutzer möglich, dies erlaubt einen störungsfreien Betrieb des TEM und eine komfortable Arbeit mit dem System z. B. in der Lehre.

Spezifikationen

Elektronenoptik

Elektronen­quelle

Feld­emissions­quelle (Schottky)

Beschleu­nigungs­spannung

80 bis 200 kV

Punkt-Auflösung

bis zu 0.19 nm (UHR-Polschuh)

Linien-Auflösung

0.14 nm

Vergrößerungs­bereich

x50 bis max. x1.500.000 (abhängig vom Polschuh)

Probenbühne

Typ

Side-Entry-Goniometer

Verfahrwege

X: 2 mm
Y: 2 mm
Z: 0.4 mm (abhängig vom Polschuh)
T: bis zu ±80° (abhängig von Polschuh und Probenhalter)

Optionen (Auswahl)

  • Piezoelemente für die X/Y-Bewegung des Goniometers, für absolut kontinuierliche Bewegung der Probe bei höchsten Vergrößerungen und effektive Probendriftkompensation
  • STEM mit HAADF
  • EDX-Systeme
  • CCD-Kameras

Bitte beachten Sie:

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

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