Transmissionselektronenmikroskope (TEM)

JEOL JEM-3200FSC Feldemissions-Cryo-Transmissions­elektronen­mikroskop

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JEOL JEM-3200FSC Feldemissions-Cryo-Transmissions­elektronen­mikroskop

Das JEOL JEM-3200FSC basiert auf dem JEM-3100F mit einem zusätzlich in die Elektronenoptik integrierten in-column-Energiefilter (Omega Filter) und einem Flüssig-He gekühlten Side-Entry-Goniometer.

Das extrem stabile Goniometer wurde speziell für die Tomographie mit hohen Kippwinkeln bei tiefen Temperaturen konzipiert. Mit der optionalen JEOL Tomographiesoftware TEMography™ werden automatisch Bildserien erfasst, eine 3D-Rekonstruktion berechnet und mit einer 3D Visualisierungs-Software das so rekonstruierte Objekt dargestellt.

Die Windows™-basierte Benutzeroberfläche des JEM-3200FSC ist intuitiv, einfach zu bedienen und ermöglicht eine Fernsteuerung durch optionale remote control Systeme.

Spezifikationen

Elektronenoptik

Elektronen­quelle

Feld­emissions­quelle (Schottky)

Beschleu­nigungs­spannung

100 bis 300 kV

Linien-Auflösung

0.204 nm (bei 18K und bei RT)

Ver­größerungs­bereich

x100 bis max. x1.200.000

Probenbühne

Typ

Cryotransfer Side-Entry-Goniometer

Verfahrwege

Kippung bis zu ±70°

Bitte beachten Sie:

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

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