Transmissionselektronenmikroskope (TEM)

JEOL JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300) Kryo Feld-Emissions Mikroskop

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JEOL JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300) Kryo Feld-Emissions Mikroskop

Das neue JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300), ausgestattet mit einer kalten Feldemissionsquelle, einem In-Column Energiefilter (Omega-Filter) in der Säule sowie einem automatischen Probenwechsel-System ermöglicht die Beobachtung von Biomolekülen bei Kryo-Temperatur. Das automatisierte Probenwechselsystem verfügt über ein Transfersystem für bis zu 12 Proben. Darüberhinaus ermöglicht das System den Austausch einzelner Proben und ist somit flexibel einsetzbar. Durch die kombinierte Verwendung des neuen In-Column Energiefilters mit einer Phasenplatte wird der Kontrast von biologischen Proben bei TEM Bildern gegenüber konventionellen Mikroskopen deutlich erhöht.

Merkmale

  1. Automatisches Probenwechsel-System
    Das System beinhaltet ein mit flüssigem Stickstoff gekühltes Transfersystem für bis zu 12 Proben. Die automatische Befüllung mit flüssigem Stickstoff garantiert eine kontinuierliche Probenkühlung und ein vollständig unterbrechungsfreies Arbeiten.

  2. Kalte Feldemissionsquelle (CFEG)
    Die kalte Feldemissionsquelle ermöglicht dem CRYO ARM™ 300 höchste Auflösung bei gleichzeitig hohem Kontrast.

  3. In-Column Energiefilter (Omega-Filter)
    Der JEOL eigene In-Column Energiefilter (Omega-Filter) ermöglicht energiegefilterte Abbildung zur Erhöhung des Signal-zu-Rausch Verhältnisses.

  4. Single Particle Analysis (SPA) Software JADAS
    Die JEOL eigene SPA Software JADAS ermöglicht die vollständig automatisierte Aufnahme von SPA Datensätzen.

Hauptgerät

Elektronen­­quelle

Kalte Feld­­emissions­­quelle (Cold FEG)

Beschleu­nigungs­spannung

300 kV

Energie­­filter

In-Column Energie­­filter (Omega-Filter)

Maximaler Neigungs­­winkel

± 70°

Probenbühne / Automa­­tisches Proben­­wechsel-System

Probenbühne

Kühl­­mittel

Flüssig­­stickstoff
Eingebautes automa­­tisches Befüll­­system

Verfahr­­wege

In-Column Energie­­filter (Omega-Filter)

X、Y

Motor­­betrieben (Bewegungs­­bereich: ±1 mm)
Piezo­­elektronik (Bewegungs­­bereich: ±0.5 μm)

Z

Motor­­betrieben (Bewegungs­­bereich: ±0.2 mm)

Neigung-X

Motor­­betrieben (Neigung: ±70°)

Proben­­wechsel

Eingebautes automa­­tisches Kryo-Transfer­­system

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