Vorführ- und Gebrauchtgeräte

Vorführ- und Gebrauchtgeräte

Nachfolgend aufgeführt finden Sie eine Auswahl von JEOL Vorführ- und Gebrauchtgeräten.
Bei Fragen zu den einzelnen Geräten sowie deren Preisen stehen wir Ihnen jederzeit gerne zur Verfügung

JSM-IT300HR InTouchScope™

Rasterelektronenmikroskop

Merkmale

Hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop mit JEOL patentierter "High Brightness" Feldemissionselektronenquelle (FEG)

  1. Neue Hochhelligkeitsfeldemissionselektronenquelle und optisches System, welche hochauflösende Abbildung und Analyse ermöglicht.
  2. Voll integriertes und automatisiertes Niedervakuum-System.
  3. Intuitive Bedienung durch Touchpanelfunktion. Verbesserte Automatisierungs- und Rezeptfunktionen für schnellste Ergebnisse und maximalen Durchsatz in großen Laboren sowie in Multi-User Umgebungen.
  4. Bedienungsfreundliche grafische Softwareschnittstelle schließt die volle Integration der Bildbeobachtung und der Elementanalyse mit ein und erlaubt sogar unerfahrenen Benutzern, jede mögliche Aufgabe mit einem Höchstmaß an Effizienz durchzuführen.
  5. Große Probenkammer, um eine Vielzahl an Probengrößen zu untersuchen. Schnellste Kammer-Pumpzeiten und ein zusätzliches Air-Lock-System * sorgen für die perfekte Transferlösung auch für empfindlichste Proben.
  6. Geringer Platzbedarf und minimale Rauminstallationsanforderungen.

* Optional

JEM-1400Plus

JEOL JEM-1400Plus Transmissionselektronenmikroskop aus unserem Applikationslabor.

Merkmale

  • Benutzerfreundliche Oberfläche mit vielen Automatikfunktionen
  • selbsterklärende Benutzerführung für Erstanwender via Touchscreen oder Maus
  • funktionsorientierter Expertenmodus
  • Mehrfach-User login
  • Remote Control über Netzwerk
  • vollständig rotationskorrigiertes Linsensystem
  • Minimum Dose System

IB-19510CP

Einfach zu bedienendes Präparationssystem zur Herstellung von qualitativ hochwertigen Probenquerschnitten für REM-, EPMA- und Auger-Anwendungen
JEOL Cross Section-Polisher IB-19510CP aus unserem Applikationslabor

Merkmale

Hier einige der Weiterentwicklungen für die noch einfachere und schnellere Verarbeitung vieler verschiedener Werkstoffe:

  • Neue Ionenquelle ermöglicht die Bearbeitung in der halben Zeit
  • Fein- und Intervallpolieren für noch perfektere Proben
  • Die Schnellstart-Funktion reduziert die Gesamtprozesszeit
  • Serienmäßig vorhandene Kamera zur Echtzeitüberwachung des Prozesses
  • Einzigartig ist der integrierte Carbon-Coater zur anschließenden Beobachtung nicht-leitfähiger Proben im REM (optional)

JEM-1010

Das JEM-1010 ist ein kostengünstiges und dabei sehr leistungsstarkes Transmissionselektronenmikroskop mit hoher Auflösung.

Merkmale

  • Benutzerfreundliche Oberfläche mit vielen Automatikfunktionen
  • vollständig rotationskorrigiertes Linsensystem
  • einstellbare Bildrotation zur Probenorientierung
  • Minimum Dose System
  • Serienmäßig mit Doppel-Probenhalter
  • vollwertiges Probengoniometer
  • hochwertiges Vakuumsystem erlaubt den Einsatz einer LaB6-Kathode ohne weitere Modifikationen

Kontaktformular

Gerne beantworten wir kostenlos und unverbindlich Ihre Fragen und beraten Sie bei anstehenden Projekten.
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