Die JEOL JEM-1400 Serie von 120 kV Transmissionselektronenmikroskopen wird in vielen Bereichen wie bspw. der Biologie, Nanotechnologie und Polymerforschung eingesetzt. Um die Bedienerfreundlichkeit weiter zu verbessern und es zu ermöglichen, eine Vielzahl von Proben in kürzester Zeit untersuchen zu können, stellt JEOL das JEM-1400Flash vor. Zusammen mit der vollständig integrierten und hochsensitiven sCMOS Kamera, einem System zur Erstellung von Panoramabildern sowie einer Funktion für korrelative Mikroskopie setzt das JEM-1400Flash neue Standards im Bereich der Elektronenmikroskopie.
Auflösung | 0.2 nm (HC) 0.14 nm (HR) |
Beschleunigungsspannung |
10 to 120 kV |
Vergrößerung |
×10 to ×1,200,000 (HC), ×10 to ×1,500,000 (HR) |
Max. Kippwinkel | ±70° *Mit optionalen Probenhalter für hohe Kippwinkel |
Anzahl der zu ladenden Proben | Bis zu 4 Proben *Mit dem optionalen Quartet-Probenhalter |
Vakuum System |
Ölfreies Pumpsystem für die Elektronenoptik |
Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.