Transmissionselektronenmikroskope (TEM)

JEOL JEM-1400Plus Transmissions­elektronen­mikroskop

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JEOL JEM-1400Plus Transmissions­elektronen­mikroskop

Das JEM-1400Plus ist ein neu entwickeltes, kompaktes Hochleistungs-TEM mit LaB6-Kathode und programmierbarer fünf-Achsen-Probenbühne. Die maximale Beschleunigungsspannung des Gerätes beträgt 120 kV. Zwei verschiedene Objektiv-Polschuhe stehen für das JEM-1400Plus zur Auswahl. Ein high-contrast-Polschuh für optimalen Probenkontrast bei sehr guter Helligkeit und Auflösung, sowie ein STEM-Polschuh für den kombinierten TEM-/STEM-Betrieb.

Merkmale

  • Benutzerfreundliche Oberfläche mit vielen Automatikfunktionen
  • selbsterklärende Benutzerführung für Erstanwender via Touchscreen oder Maus
  • funktionsorientierter Expertenmodus
  • Mehrfach-User login
  • Remote Control über Netzwerk
  • vollständig rotationskorrigiertes Linsensystem
  • Minimum Dose System

Spezifikationen

Elektronenoptik

Elektronenquelle

W- oder LaB6-Emitter (optional)

Beschleunigungs­spannung

40 bis 120 kV

Punkt-Auflösung

0.38 nm

Linien-Auflösung

0.20 nm

Vergrößerungs­bereich

x200 bis x1.200.000 (HC-Polschuh)
x5000 bis x2.000.000 (STEM-Polschuh)

Niedriger Vergrößerungs­bereich

x10 bis x1.000 (HC-Polschuh)
x120 bis x4.000 (STEM-Polschuh)

Probenbühne

Typ

Side-Entry-Goniometer

Verfahrwege

X: ±1 mm
Y: ±1 mm
Z: ±0.5 mm
T: ±70°

Optionen (Auswahl)

  • LaB6-Kathode
  • STEM-System und HAADF-Detektor
  • Tomographie-System
  • Cryo-Systeme
  • CCD-Kamera
  • EDX-Systeme

Bitte beachten Sie:

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

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